电子器件冲击冷热可靠性测试方法

电子器件冲击冷热可靠性测试方法：

目的：

确定元件曝露于高低温极值下，以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。试验样品的失效数应以后检测为依据。

试样制备：

样品预处理:

将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定

样品初始检测:将被测样品与标准要求对照，符合要求后直接放入冷热冲击测试仪内准备进行测试。

样品试验:这个是正式的试验，是冷热冲击测试仪对产品进行测试的重要的步骤

先，冷热冲击测试仪试验样品需要严格按照冷热冲击箱执行标准的要求放置在试验箱内，并将试验箱(室)内温度升到测试点，并保持足够的的时间至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准，其次，务必在高温试验箱测试完毕之后，在5分钟内将试验样品转换到已调节到-55℃的低温试验箱(室)内，保持1小时或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长度为准.再次，低温测试箱完毕之后，在5分钟内将试验样品转换到已调节到70%℃的高温试验箱(室)内，保持1小时或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长都为准。

后，为了保证材料高低温冷热冲击测试结果的准确性，请按照以上步骤重复三周期，重复上术实验方法。因为根据样件大小与空间大小，时间可能会略有误差.