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测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机

 更新时间:2023-07-11 点击量:734

测试半导体器件性能方法高低温拉力试验机:

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目的:

用于测试半导体器件在不同温度下性能的设备。它可以模拟各种环境温度,从而对半导体器件的性能进行全面的测试和评估。用于测试半导体器件的温度特性。在不同的温度下,半导体器件的电性能会发生变化,因此需要对其进行测试。通过半导体高低温测试机,可以模拟各种温度环境,从而对半导体器件的温度特性进行测试和评估。半导体高低温测试机还可以用于测试半导体器件的可靠性。在不同的温度下,半导体器件的可靠性也会发生变化。通过半导体高低温测试机,可以模拟各种温度环境,从而对半导体器件的可靠性进行测试和评估。半导体高低温测试机还可以用于测试半导体器件的性能稳定性。在不同的温度下,半导体器件的性能稳定性也会发生变化。通过半导体高低温测试机,可以模拟各种温度环境,从而对半导体器件的性能稳定性进行测试和评估。

试样制备:

首先需要将待测试的芯片、集成电路等半导体器件获取到样品,并在其表面镀上金属,以便与测试机上的针脚连接。

设备连接。将测试机上的针脚和器件相连接,使测试机能够获取并控制芯片上的信号和电流。

温度设定。在连接完成后,将设备进入恒温状态,并将其温度设定为高低温范围内。

测试信号发送。当设备已经到达设定的温度后,将测试信号发送至芯片上,以获取该器件的性能数据。

性能参数分析。通过将性能参数与测试机的预定义值进行比较,可以确定芯片的性能情况。如果芯片的性能参数不符合预期的值,则需要对芯片进行修复或更换。

测试方法:

可提供-85~250 度的测试环境温度,设备不直接作用于测试物件,而是连接到一个测试平台适配器上,部件内部通过导热介质进行加热和冷却测试,控制温度精度保持在±0.3

半导体电源芯片高低温测试均可以和电脑连接,通过组态软件实现电脑画面与仪器设备画面同步,通信距离 200 米以内均可轻松实现温度设定,实时控制画面。7 寸彩色大屏幕,温度曲线记录,程序选择及报警画面记录等。实现可视化、数据储存和汇报分析。