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微电路元件可靠性试验方法液槽冲击试验箱

 更新时间:2023-03-23 点击量:258

微电路元件可靠性试验方法液槽冲击试验箱

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目的:确定元件暴露于高低温极值下,以及高低温极值交替冲击下所具有的抗御能力。

符合标准:MIL-STD-883 推力标准

试验:

将试验样品置于低温箱中,此时,低温箱的温度已调至表1规定的极值温度,并在温度下按表2规定的时间进行保温。

保温时间到,在5min内将试验样品从低温箱格至高温箱中,此时,高温箱的温度已调

至表1规定的极值温度,并在此温度下按表2规定的时间进行保温,

保温时间到,在5min内将试验样品从高温箱移至低温箱中。此时,低温箱的温度已调至4.3.1款的极值温度,并在此温度下按4.3.1款的试验时间进行保温。

初的5次循环应连续地进行。5次循环后,在任何一次循环完成之后都可以中断试验。再恢复试。验之前可允许试验样品恢复到试验的标准大气条件。

在测试阶段,不同的推力值会在不同的温度环境下应用于待测定的元件上,包括低温(-196°C至+85°C)和高温(-55°至+125°C)。MIL-STD-883 规定,低温部分应用的推力值为25g(0.25 ms),峰峰值和保持时间分别为50g(1ms)和11 ms:高温部分应用的推力值为15g(0.15 ms),峰峰值和保持时间分别为30g(0.3 ms)和6ms。此外,MTL-STD-883 规定,在完成推力测试前,还必须记录和存档测试要求,以确保能够进行正确分析和结果报告。

在恢复阶段,完成推力测试之后,用干测试的微电路元件应当严格按照建立的标准进行复原活动,以保证受到的捐伤达到小值。通过 MIL-STD-883 推力标准的测试,可以溯源检测微电路元件的可靠性,同时确保微电路元件的性能,减少设备出现故障的风险,提高设备的可用性。因此,现代微电路制造厂纷纷采用 MIL-STD-883 推力标准来保证其产品的可靠性和可用性。