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TT230时代膜厚仪

描述:TT230 涂层测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

更新时间:2016-06-20
产品型号:
厂商性质:经销商
详情介绍

一、TT230时代涂层测厚仪简述

TT230 涂层测厚仪是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

 

二、涂层测厚仪——执行标准:

GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
 
J B/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JG 818─93 《电涡流式测厚仪》

 

三、涂层测厚仪——功能特点
 
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
具有米、英制转换功能;
具有打印功能,可打印测量值、统计值;
具有欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
 
具有错误提示功能;
具有自动关机功能

四、涂层测厚仪——技术参数表:


测头类型
N
测量原理
电涡流
测量范围
0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力
1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式
一体化
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1.5]
两点校准(um)
±[(1%~3%)H+1.5]
测量条件
zui小曲率半径(mm)
凸3 凹10
基体zui小面积的直径(mm)
ф5
zui小临界厚度(mm)
0.3
温湿度
 
0~40℃
20%RH~90%RH
 
统计功能
平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
工作方式
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置
存储能力
15 个测量值
打印/连接计算机
可选配打印机/不能连接电脑
关机方式
自动
电源
二节3.6V镍镉电池
外形尺寸
150×55.5×23mm
重量
150g

五、涂层测厚仪——标准配置:
主机
z标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
z铁基体
z充电器

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