TT230时代膜厚仪

描述：TT230 涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

更新时间：2023-11-12

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厂商性质：经销商

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一、TT230时代涂层测厚仪简述

TT230 涂层测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

二、涂层测厚仪——执行标准：

GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法

J B/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JG 818─93 《电涡流式测厚仪》

三、涂层测厚仪——功能特点：

可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；

具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）

具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；

设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；

具有米、英制转换功能；

具有打印功能，可打印测量值、统计值；

具有欠压指示功能；

操作过程有蜂鸣声提示；

具有错误提示功能；

具有自动关机功能

四、涂层测厚仪——技术参数表：

测头类型		N
测量原理		电涡流
测量范围		0-1250um/0-40um（铜上镀铬）
低限分辨力		1µm（10um以下为0.1um）
探头连接方式		一体化
示值误差	一点校准（um）	±[3%H+1.5]
	两点校准（um）	±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件	zui小曲率半径（mm）	凸3 凹10
	基体zui小面积的直径（mm）	ф5
	zui小临界厚度（mm）	0.3
温湿度		0~40℃ 20%RH～90%RH
统计功能		平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式		直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）
测量方式		连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置		无
存储能力		15 个测量值
打印/连接计算机		可选配打印机/不能连接电脑
关机方式		自动
电源		二节3.6V镍镉电池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g

五、涂层测厚仪——标准配置：
主机

z标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）

z铁基体

z充电器